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超低溫沖擊箱，-100~100度高低 溫沖 擊箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)用的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極 G溫及極D溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

-65度三箱沖擊試驗(yàn)箱，三箱法高低溫沖擊箱 1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn) 2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗(yàn) 3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱，高 低溫提籃沖擊箱主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車(chē)（摩托車(chē)）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。

三箱高低溫沖擊箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品（整機(jī)）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。

熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)適用于各類(lèi)半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。